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產(chǎn)品中心半導(dǎo)體材料測(cè)試
產(chǎn)品分類
WT-2000MCT/μ LBIC 適用于對(duì)超低溫有特殊要求的材料，比如HgCdTe,InSb,GaAs,InGaAs等，它已被廣泛用于化合物材料的缺陷，雜質(zhì)和光電效率等參數(shù)表征。
更新時(shí)間：2025-01-23
產(chǎn)品型號(hào)：
瀏覽量：266
WT-2000提供349nm，904nm，1064nm，1550nm等不同激發(fā)光，適合Si，SiC，GaAs，CdZnTe，InGaAs等各種材料電學(xué)參數(shù)測(cè)試。
更新時(shí)間：2025-01-23產(chǎn)品型號(hào)：瀏覽量：268
WT-1200A 是單點(diǎn)式少子壽命測(cè)試系統(tǒng)，具備無(wú)接觸等優(yōu)點(diǎn)。
更新時(shí)間：2025-01-23產(chǎn)品型號(hào)：瀏覽量：429
半導(dǎo)體參數(shù)分析儀型號(hào)有Keysight B1500A系列、Keithley 4200系列
更新時(shí)間：2025-01-23產(chǎn)品型號(hào)：瀏覽量：1463
網(wǎng)絡(luò)分析儀主要特性和功能：$n· 具有緊湊型頻率擴(kuò)展器的單次掃描解決方案$n· 可以作為單個(gè)產(chǎn)品解決方案一次性購(gòu)買$n· 對(duì)器件施加精確的調(diào)平功率，進(jìn)行功率掃描$n· 提供各種應(yīng)用軟件，幫助您進(jìn)行詳細(xì)分析
更新時(shí)間：2025-01-23產(chǎn)品型號(hào)：PNA系列、ENA、PXI VNA瀏覽量：2789公司郵箱： qgao@buybm.com
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